Iijima Y., Kiss T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Iwakuma M.(iwakuma@sc.kyushu-u.ac.jp), Funaki K., Yamada Y., Nigo M., Inoue D., Miyamoto N.
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Miyata S., Watanabe T.(t-nabe@istec.or.jp), Niwa T.(Niwa.Toshiharu@chuden.co.jp), Mori M.(Mori.Masami2@chuden.co.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductor modules, CVD process, multistage process, substrate Hastelloy, microstructure, texture, growth rate, fabrication
Amemiya N., Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Kakimoto K., Yamada Y., Nishioka T., Enomoto N., Zhenan J.
Muroga T., Nagaya S., Kashima N., Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Yamada Y., Miyata S., Shikimachi K.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, microstructure, annealing process, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Joo J., Sugano M., Nah W., Kumakura H., Matsumoto A., Kim J.H., Koizumi T., Choi S., Kiyoshi T., Ha D.-W., Ha H.-S.
Nagaya S., Hasegawa T., Nakatsu T., Kitaguchi H., Kumakura H., Nishioka J., Matsumoto A., Koizumi T., Hikichi Y.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, tapes multifilamentary, phase formation, fabrication, heat treatment, microstructure
Izumi T., Amemiya N.(ame@rain.dnj.ynu.ac.jp), Enomoto N.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, aspect ratios, geometry effects, ac losses, angular dependence, numerical analysis
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, IBAD process, substrate Hastelloy, critical current, fabrication, critical caracteristics
Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Goto T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Honjo T., Yajima A., Kaneko A.(akaneko@istec.or.jp), Matsuda J.S., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, resistivity, fabrication
Izumi T., Shiohara Y., Hayashi A.(hayashi@ceram.rd.pref.gifu.jp), Kurachi K., Seiki S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, rods, fabrication, current leads, critical current, microstructure, mechanical properties, critical caracteristics
Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Okamoto H., Inoue A., Hoshi S., Kai M.(kai@istec.or.jp), Koyama S., Otsuka M.
Izumi T., Shiohara Y., Watanabe T., Kato T., Yamada Y., Iwai H., Muroga T.(muroga@istec.or.jp), Sugawara Y., Hirayama T., Miyata S., Sasaki H.
Iijima Y., Muroga T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Hirayama T., Hirabayashi I., Kato T.(tkato@jfcc.or.jp), Ikuhara Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, buffer layers, grain alignment, microstructure, IBAD process, PLD process, fabrication, coated conductors
Izumi T., Izumi T., Shiohara Y., Maeda T., Hasegawa K.(khasegawa@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, coated conductors, substrate Ni, oxygenation treatments, grain boundaries, grain alignment, fabrication, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.